开关稳压电源设计

4.1.1 电气规格验证:
4.1.1.1 3843 PIN3 脚电压(full load 4A) :
90V/47Hz = 0.83V
115V/60Hz = 0.83V
132V/60Hz = 0.83V
180V/60Hz = 0.86V
230V/60Hz = 0.88V
264V/63Hz = 0.91V
4.1.1.2 Duty Cycle , fT:

4.1.1.3 Vin(min) = 100V (90V / 47Hz full load)
4.1.1.4 Stress (264V / 63Hz full load) :

4.1.1.5 辅助电源(开机，满载)、短路Pin max.:

4.1.1.6 静态（满负荷)

4.1.1.7 Full Range 负载(0.3A-4A)
(验证是否有振荡现象)

4.1.1.8 反馈失效(输出轻载)
90V/47Hz e Vout = 8.3V
264V/63Hz e Vout = 6.03V
4.1.1.9 O.C.P.(过电流保护)
90V/47Hz = 7.2A
264V/63Hz = 8.4A
4.1.1.10 Pin(max.)
90V/47Hz = 24.9W
264V/63Hz = 27.1W
4.1.1.11 Dynamic test
H=4A，t1=25ms，slew Rate = 0.8A/ms (Rise)
L=0.3A，t2=25ms，slew Rate = 0.8A/ms (Full)

4.1.1.12 HI-POT test:
HI-POT test 一般可分为两种等级:
 输入为3 Pin(有FG 者)，HI-POT test 为1500Vac/1 minute。
Y-CAP 使用Y2-CAP
 输入为2 Pin(无FG 者)，HI-POT test 为3000Vac/1 minute。
Y-CAP 使用Y1-CAP
DA-14B33 属于输入3 PIN HI-POT test 为1500Vac/1 minute。
4.1.1.13 Grounding test:
输入为3 Pin(有FG 者)，一般均要测接地阻(Grounding test)，安
规规定FG 到输出线材(输出端)的接地电阻不能超过100mΩ
(25A/3 Second)。
4.1.1.14 温升记录
设计实验定案后(暂定)，需针对整体温升及EMI 做评估，若温
升或EMI 无法符合规格，则需重新实验。温升记录请参考附件，
D5 原来使用BYV118(10A/40V Schottky)，因温升较高改为
PBYR1540CTX(15A/40V)。
4.1.1.15 EMI 测试:
EMI 测试分为二类:
Conduction(传导干扰)
 Radiation(幅射干扰)
前者视规范不同而有差异(FCC : 450K - 30MHz，CISPR 22 :150K
- 30MHz)，前者可利用厂内的频谱分析仪验证；后者(范围由30M
- 300MHz，则因厂内无设备必须到实验室验证，Conduction，
Radiation 测试数据请参考附件) 。
4.1.1.16 机构尺寸:
设计阶段即应对机构尺寸验证，验证的项目包括 : PCB尺寸、
零件限高、零件禁置区、螺丝孔位置及孔径、外壳孔寸….，若
设计阶段无法验证，则必须在样品阶段验证。
4.1.2 样品验证:
样品制作完成后，除温升记录、EMI测试外(是否需重新验证，视情
况而定)，每一台样品都应经过验证(包括电气及机构尺寸)，此阶段的
电气验证可以以ATE(Chroma)测试来完成，ATE测试必须与电气规格
相符。
4.1.3 QE 验证:
QE 针对工程部所提供的样品做验证，工程部应提供以下交件及样品
供QE 验证。

                                                   高频开关电源原理与设计电路图