☆ IGBT的特征
和POWER MOSFET的比较,IGBT(INSULATED GATE BIPOLAR TRANSISTOR)在耐压600V以上之领域的功率损失相当低。IGBT的输出部分属于双极组件,具有以往之双极晶体管(BJT:BIPOLAR JUNCTION TRANSISTOR)的优点与缺点,虽然可以藉IC之设计技术提高BJT之性能,但是,无法根本解决BJT的电荷存储时件(STORAGE TIME)问题(BJT在OFF时需耗费较长时间),因此,在需要作高速开关动作(HIGH SPEED SWITCHING)之领域较不适合使用IGBT,但是,在使用AC市电驱动之场合(例如驱动马达等之场合),在高电压大功率之应用领域内使用IGBT的效率远较POWER MOSFET为高。
分立型半导体组件(DISCRETE SEMICONDUCTOR)将来生存之必需条件是必须能够以和制作IC相同的设备来制造(IC之生产量为大功率组件的10倍以上),而POWER MOSFET以及IGBT均具备此条件。
MOS系大功率组件之分类
大功率组件(POWER DEVICE)可依以下数点加以分类:1动作原理、2使用目的、3组件材料之种类、4截面形状、5组件基片材料(SUBSTRATE MATERIAL)之极性以及外加电极性、6容许消耗功率及外壳封装。
此外对于POWER MOSFET加以细分追加以下数项分类:7表面形状、8偏压(BIAS)之方法、9闸极(GATE)构造、10组件内部之电流流动方式。
依动作原理而分类
传输电流之媒体有两种,一种是以一种载子(CARRIER)传输电流的媒体,称为单极组件(UNIPOLAR ELEMENT);另外一种是以二种载子传输电流的媒体,称为双极组件(BIPOLAR ELEMENT)。前者之具体实例为FET(FIELD EFFECT TRANSISTOR),后者则有BJT(BI JUNCTION TRANSISTOR)及SCR(SILICON CONTROLLED RECTIFIER)等。如图所示为这些大功率组件的构造简图。这些组件均有3个端子,在组件内部有2~3个PN接合存在。FET和BJT内部的PN接合十分相似(不过,FET为纵向接合,BJT则为横向接合),不过,两者之动作原理完全不同,FET自始就只有一个通道(CHANNEL)存在,换句话说,泄极(DRANIN)和源极(SOURCE)间处于导通状态。反之BJT之场合,在射极(EMITTER)和集极(COLLECTOR)之间至少有一个逆方向PN接合二极管存在,此逆向二极管将电流予以阻绝。SCR由二个BJT构成,SCR顾名思意为整流器,电流仅从阳极往阴极方向作单向流通。如果利用SCR来直接控制正负变化之交流时,所能控制之范围为0~50%。将两个SCR作反向并联连接以扩大控制范围,这就是“TRIAC”电流能够双方向流通(如图示)。
POWER MOSFET与IGBT之关系
IGBT(INSULATED GATE BIPOLAR TRANSISTOR)乃是MOSFET与BJT的复合组件。MOSFET与SCR之复合组件称为MCT(MOS CONTROLLED THYRISTOR),如表所示为各种大功率组件的动作速度与电流密度的比较。和单极组件POWER MOSFET比较,双极组件IGBT及MCT能够藉传导度调变提高电流密度。但是,提高电流密度之后难以令其OFF(TURN OFF),于是,电流密度较IGBT为高的MCT的OFF速度更慢。不过,双极组件的ON速度和MOSFET并无太大差异。
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大功率组件的动作速度及电流密度 |
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电流密度* |
动作时间 |
MOS化后 |
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FET |
1 |
50n |
POWER MOSFET |
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BJT |
4~5 |
1μ |
IGBT |
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SCR |
~15 |
20μ |
MCT** |
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*耐压500V之场合的相对比较 |
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**深受期待但未能在市场立足 |
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接合型FET与MOS型FET
因闸极构造之不同,FET可分为接合型与MOS型两大类。接合型FET的闸极藉PN接合与源极、泄极分离。在PN接合界面之处经常形成一种称为“空乏层”(DEPLETION LAYER)的绝缘领域,空乏层之厚度随着施加于接合上之电压的极性及大小儿增减变化。MOS型FET之场合,闸极与源极及泄极之间隔着SiO2等之绝缘膜儿完全分离。在稳定状态下,流过闸极绝缘膜之电流很小,只有1nA左右。
使用时之注意事项838电子
MOS系组件在使用时必须注意避免遭受静电破坏(双极系组件较无此项顾虑)。
(a) 包装与搬运
☆ 采取妥善之包装方式以免搬运MOSFET之时在闸极—源极间产生静电。如果是塑料封装(PLASTIC PACKAGE)之MOSFET的场合,只要将其装入导电性袋子内即可。如果是金属封装之场合,必须使用导电性托盘(TRAY),并注意引线端子不要接触到非导电部。
☆ 不使用时不要打开MOSFET之包装。
☆ 作业人员之人体及衣服必须接地以泄放所带之静电。
☆ 拿取MOSFET时抓外壳封装本体,不可接触其引线端子。
☆ 作试验或组装时所用之装置一定要接地。
(b)作业环境
在原理上,能够对整个作业环境实施静电防止措施,不过,针对各个作业台分别实施静电对策较为合理,此时,必须遵守的一般原则如下:
☆ 令桌面带有中度之导电性,并予以接地。
☆ 令地板亦同样地带有中度之导电性,并予以接地。
☆ 人体亦须接地。
(c)相对湿度
湿度越高越容易泄放静电(静电之漏电越大),因此,作业环境之相对湿度必须保持在50%以上。当相对湿度超过70%时,几乎完全不会产生静电。
(d)作业人员之指导
特别是整个作业环境未实施静电防止对于策之场合,对于作业人员之注意事项也各有不同,必须定期地彻底指导各作业人员。主要项目如下:
☆ 作业服装之穿戴。
☆ 接地睕带之佩带。
☆ 在打开包装取零件时必须先将人体予以接地放电。
☆ 仅可在已经经由电阻接地之场所作业。
☆ 区别可能带电的物品(黏贴带、橡皮盖、塑料膜)。
☆ 区别已实施静电防止之场所及未实施之场所。
(e)测试电路内之保护对策
☆ 测试装置一定要接地。
☆ 在将受测组件架上测试装置之前必须先将试验电压归零。
☆ 使用特性曲线瞄绘仪(CURVE TRACER)时,为了防止寄生振荡,在受测MOSFET之闸极上串联100Ω以上之电阻。
☆ 在测试MOSFET时,所有之端子均必须配线(不可任其开路)。
☆ 在改变测试条件时,必须先将外加电压及电流归零。
※参考Power(大功率)MOSFET/IGBT应用设计技术

辽公网安备21120202000012